cylinder type drive level

1㎼시 빌진무 상태이나 1㎻에서는 정상발진 합니다 무슨 관계가 있는지......
32.768㎑ 는 국제규격이 1㎼ max로 알고 있습니다 이유가 있는지....
그리고 750㎻에서는 발진 하는데 800㎻에서는 무발진 입니다.
이런 제품은 불량으로 보아야 하는지....

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음차형 수정진동자 및 CUT 방식에 따라 차이가 있으나 AT-CUT 수정진동자에서는 Holder Type과 관계없이 나타날수있는 사례입니다. 즉 impurity에 의한 Impedance 변화는 random하게나타납니다.
에너지 포획에서 진행파와 반사파의 관계, 전하가 형성된 에너지 준위의 형태, 정전기를 띄고있는 particle과 nodal point관계 때문에 일정하지는 않습니다.

수정진동자를 검사하는 test fixture는 IEC444 pi-network 으로 구성되어 있습니다. 그러나 tuning fork의 test fixture는 어떠한 형식으로 구성되어 있는지 아직 평가가 안되어 있습니다.
단. impedance analyzer를 이용한 IEC444 pi-network 및 250B 계측기를 이용해서 제품을 평가했던 사례로 설명드리면 다음과 같습니다.

측정 error가 발생되는 원인은 크게 두가지로 구분할수있습니다.
1. 계측기 setting 잘못 이거나 Test fixture 고장 →D/L vs Rr이 측정 범위에 포함되어 있는지?, sweep time이 올바르게 설정되어 있는지,CAL은 정확히 했는지 확인이 필요하며, 이상이 없었다면 계측기 제조사의 점검을 받아야 됩니다.
( 전류조건등으로 수정진동자의 MODE가 중첩되 간혹 측정 ERROR가 발생되는 경우가 있습니다.tuning forking를 검사하는 D/L조건은 일반적으로1uW 이하의 값으로 설정하지만 setting 조건으로 공진점을 정확히 조정해야 됩니다.)

2. 수정진동자가 특정 level에서 직렬공진점이 무너지는 이상현상을 impedance analyzer에서는 발견할수 있습니다. 즉 250B에서 평가가 안되는 D/L에 따른 문제를 볼수 있으며, TEST CIRCUIT를 별도로 제작해서 OSCILLO- SCOPE로 검사할때 JITTER에 의한 문제점도 발견할수있습니다.따라서 250B의 한계성을 보완할수있는 검사 방법이 필요합니다. 이러한 trouble 현상은 수정진동자의 결함입니다.

단. 귀하께서 설명한 내용으로 평가 했을때 이상현상은 계측기 조작 잘못에 의해 발생된 사례로 비중이 갑니다.따라서 계측기 제조사에 점검을 받아 보도록 하세요 그러나 본 작성자도 쉽게 단정할수 없는 문제이므로 시료를 보내주시면 평가토록 하겠습니다.